深圳市普云電子有限公司PY-E516系列冷熱沖擊測試箱，高低溫沖擊試驗箱又名兩三箱式冷熱沖擊試驗機 Hot And Cold Shock Test Chamber設備規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；設備還可提供標準高低溫試驗功能，實現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容；高強度、高可靠性的結構設計- 確保了設備的高可靠性。

深圳市普云電子有限公司出品的PY-E516系列高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber適用于考核產品（整機）、元器件、零部件等經受溫度急劇變化的能力，該溫度沖擊試驗能夠了解試驗樣品一次或連續(xù)多次因溫度變化而帶來的影響。影響溫度變化試驗的主要參數(shù)為溫度變化范圍的高溫和低溫溫度值、樣品在高溫和低溫下的保持時間、以及試驗的循環(huán)次數(shù)等因素。

高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber技術參數(shù) :

PY-E516系列冷熱沖擊測試箱 Hot And Cold Shock Test Chamber可根據(jù)用戶要求定制尺寸/定制使用指標/定制各種選配功能

*溫度控制
可實現(xiàn)溫度定值控制和程序控制；
全程數(shù)據(jù)記錄儀（可選功能）可以實現(xiàn)試驗過程的全程記錄和追溯；
每臺電機均配置過流（過熱）保護/加熱器設置短路保護，確保了設備運行期間的風量及加熱的高可靠性；
USB接口、以太網通訊功能，使得設備的通訊和軟件擴展功能滿足客戶的多種需要；
采用流行的制冷控制模式，可以0%~100%自動調節(jié)壓縮機制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%；
制冷及電控關鍵配件均采用，使設備的整體質量得到了提升和保證；

*冷熱沖擊試驗箱 Hot And Cold Shock Test Chamber設備滿足以下標準:
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗B：高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 總則
GJB 150.3A-2009 jun用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗
GJB 150.4A-2009 jun用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗
GJB 150.5A-2009 jun用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分：溫度沖擊試驗
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗

冷熱沖擊實驗箱 Hot And Cold Shock Test Chamber設備特點
規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；
設備還可提供標準高低溫試驗功能，實現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容；
高強度、高可靠性的結構設計- 確保了設備的高可靠性；
工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強，使用壽命長；
高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減??；
表面噴塑處理- 保證設備的持久防腐功能和外觀壽命；
高強度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設備大門的高密封性；
多種可選功能（測試孔、記錄儀、測試電纜等）保證了用戶多種功能和測試的需要；
大面積電熱防霜觀察窗、內藏式照明 –可以提供良好的觀察效果；
環(huán)保型制冷劑 –確保設備更加符合您的環(huán)境保護要求；